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論文

Effects of He implantation on radiation induced segregation in Cu-Au and Ni-Si alloys

岩瀬 彰宏; L.E.Rehn*; P.M.Baldo*; L.Funk*

Journal of Nuclear Materials, 271-272, p.321 - 325, 1999/00

 被引用回数:1 パーセンタイル:13.12(Materials Science, Multidisciplinary)

15MeVのHeイオンと100~400keVのHeイオンとを同時照射したCu-Au,Ni-Si合金の照射誘起析出を、RBS法により測定した。15MeV Heイオンのみを照射した場合に大きく現れる表面への照射誘起析出は、低エネルギーHeイオンを同時照射した時、抑制される。以上の実験結果をもとに、Freely Migrating Defects生成におけるHe原子の効果について議論する。

論文

Reduction of freely migrating defect concentrations by cascade remnants in Ni-Si alloys

岩瀬 彰宏; Rehn*; Baldo*; Funk*

Journal of Nuclear Materials, 244(2), p.147 - 152, 1997/00

 被引用回数:4 パーセンタイル:37.13(Materials Science, Multidisciplinary)

Ni-Si合金中の自由欠陥が、Neイオン照射によって導入されたカスケード欠陥と相互作用し、その結果、自由欠陥濃度が著しく減少することを示した。

論文

Effect of cascade remnants on freely migrating defects in Cu-1%Au alloys

岩瀬 彰宏; L.E.Rehn*; P.M.Baldo*; L.Funk*

Ion-Solid Interactions for Materials Modefication and Processing (Mater. Res. Soc. Symp. Proc., Vol. 396), 0, p.179 - 184, 1996/00

自由拡散欠陥(FMD)の生成率におけるカスケード損傷の効果を、1.5MeVのHeと400-800keVの重イオンの同時照射下でのRBS測定により調べた。試料はCu-1%Auである。Heのみを照射した時にみられる照射誘起析出は、重イオンを同時照射することによって大きく減少する。これは重イオンによって生成されたカスケード損傷が、FMDに対して有効なシンクとして作用したことを示す。銅イオンを照射した時は、照射誘起析出は同時照射中にのみ減少するのに対して、希ガスイオン(Ne、Ar)のHeとの同時照射の実験では、その効果は希ガスイオン照射を止めた後にも残る。これは、試料中に蓄積されたガス原子がカスケード損傷を安定化させたために生じたものである。

論文

Annihilation of freely migrating defects by cascade remnants in Cu-1% Au alloys

岩瀬 彰宏; Rehn*; Baldo*; Funk*

Journal of Nuclear Materials, 238(2-3), p.224 - 236, 1996/00

 被引用回数:10 パーセンタイル:65.27(Materials Science, Multidisciplinary)

Cu-1%Au合金中の自由拡散欠陥(FMD)が、カスケード欠陥と相互作用して消滅し、その結果、FMDの発生効率が著しく小さくなることを実験的に示したものである。

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